EA Electron microscopes (S/TEM and FIB-SEM)
Rijksuniversiteit Groningen
The tender is sub-divided into 2 lots:
— lot 1: Electron Microscope for sub-Ångstrom materials analysis (S/TEM)
— lot 2: Electron and Ion Microscope for sample preparation (FIB-SEM)
Tenderers are entitled to submit tenders for more than 1 lot.
Tenderers can submit per lot 1 to a maximum of 2 offers. In addition, tenderers are allowed to submit a combination offer for both lots. If Tenderer wants to submit a combination offer he needs to submit the offer separately in each lot. (lot 1 — combination and lot 2 — combination offer).
De termijn voor de ontvangst van de offertes was 2017-11-02. De aanbesteding werd gepubliceerd op 2017-09-21.
LeveranciersDe volgende leveranciers worden genoemd in gunningsbesluiten of andere aanbestedingsdocumenten:
Wie? Wat? Waar?
Aankoopgeschiedenis
| Datum | Document |
|---|---|
| 2017-09-21 | Aankondiging van een opdracht |
| 2018-02-09 | Award Aankondiging |
Aankondiging van een opdracht (2017-09-21)
Object
Toepassingsgebied van de aanbesteding
Titel: Elektronenmicroscopen
Referentienummer: RUG 5100.2991.211427
Korte beschrijving:
Aankondigingsmetadata
Originele taal: Engels 🗣️
Documenttype: Aankondiging van een opdracht
Aard van de opdracht: Leveringen
Regelgeving: Europese Unie
Gemeenschappelijke woordenlijst overheidsopdrachten (CPV)
Code: Elektronenmicroscopen 📦
Aanvullende CPV-code: Microscopen 📦
Plaats van uitvoering
NUTS-regio: Nederland 🏙️
Procedure
Type procedure: Openbare procedure
Type bod: Inschrijving voor alle percelen
Gunningscriteria
Uit economisch oogpunt voordeligste inschrijving
Aanbestedende dienst
Identiteit
Land: Nederland 🇳🇱
Type aanbestedende dienst: Publiekrechtelijke instelling
Naam aanbestedende dienst: Rijksuniversiteit Groningen
Postadres: Blauwborgje 8
Postcode: 9747 AC
Poststad: Groningen
Contact
Internetadres: http://www.rug.nl 🌏
E-mail: ruth.koops@rug.nl 📧
URL van de documenten: https://platform.negometrix.com/PublishedTenders.aspx?tenderid=68018 🌏
Referentie
Datums
Verzenddatum: 2017-09-21 📅
Indieningstermijn: 2017-11-02 📅
Publicatiedatum: 2017-09-23 📅
Identificatoren
Aankondigingsnummer: 2017/S 183-374613
PB-S nummer: 183
Object
Toepassingsgebied van de aanbesteding
Korte beschrijving:
Geschatte totale waarde: 5 300 000 EUR 💰
Benaming van het perceel: Lot 1 — Electron Microscope for sub-Ångstrom material analysis (S/TEM)
Perceelnummer: 1
Korte beschrijving: Lot 1 — Electron Microscope for sub-Ångstrom material analysis (S/TEM).
Geschatte waarde exclusief BTW: 4 000 000 EUR 💰
Duur: 96 maanden
Benaming van het perceel: Lot 2 — Electron Microscope for sub-Ångstrom material analysis (S/TEM)
Perceelnummer: 2
Korte beschrijving: Lot 2 — Electron Microscope for sub-Ångstrom material analysis (S/TEM).
Geschatte waarde exclusief BTW: 1 300 000 EUR 💰
Plaats van uitvoering
Hoofdlocatie of plaats van uitvoering: Groningen.
Procedure
Tijdstip van ontvangst van inschrijvingen: 12:00
Talen waarin inschrijvingen of aanvragen tot deelneming kunnen worden ingediend: Engels 🗣️
Geldigheidsduur van de inschrijving: 4 maanden
Datum opening inschrijvingen: 2017-11-02 📅
Tijdstip van opening inschrijvingen: 12:00
Plaats: Groningen.
Aanbestedende dienst
Identiteit
Nationaal registratienummer: 01179037
Contact
Contactpunt: Ruth Koops
Adres van het kopersprofiel: https://platform.negometrix.com/PublishedTenders.aspx?tenderid=68018 🌏
Documenten URL: https://platform.negometrix.com/PublishedTenders.aspx?tenderid=68018 🌏
Aanvullende informatie
Beoordelingsorgaan
Naam: Competent Court
Poststad: Groningen
Land: Nederland 🇳🇱
Bron: OJS 2017/S 183-374613 (2017-09-21)
Object
Toepassingsgebied van de aanbesteding
Titel: Elektronenmicroscopen
Referentienummer: RUG 5100.2991.211427
Korte beschrijving:
The tender is sub-divided into 2 lots:
— lot 1: Electron Microscope for sub-Ångstrom materials analysis (S/TEM)
— lot 2: Electron and Ion Microscope for sample preparation (FIB-SEM)
Tenderers are entitled to submit tenders for more than 1 lot.
Tenderers can submit per lot 1 to a maximum of 2 offers. In addition, tenderers are allowed to submit a combination offer for both lots. If Tenderer wants to submit a combination offer he needs to submit the offer separately in each lot. (lot 1 — combination and lot 2 — combination offer).
Toon meer
Originele taal: Engels 🗣️
Documenttype: Aankondiging van een opdracht
Aard van de opdracht: Leveringen
Regelgeving: Europese Unie
Gemeenschappelijke woordenlijst overheidsopdrachten (CPV)
Code: Elektronenmicroscopen 📦
Aanvullende CPV-code: Microscopen 📦
Plaats van uitvoering
NUTS-regio: Nederland 🏙️
Procedure
Type procedure: Openbare procedure
Type bod: Inschrijving voor alle percelen
Gunningscriteria
Uit economisch oogpunt voordeligste inschrijving
Aanbestedende dienst
Identiteit
Land: Nederland 🇳🇱
Type aanbestedende dienst: Publiekrechtelijke instelling
Naam aanbestedende dienst: Rijksuniversiteit Groningen
Postadres: Blauwborgje 8
Postcode: 9747 AC
Poststad: Groningen
Contact
Internetadres: http://www.rug.nl 🌏
E-mail: ruth.koops@rug.nl 📧
URL van de documenten: https://platform.negometrix.com/PublishedTenders.aspx?tenderid=68018 🌏
Referentie
Datums
Verzenddatum: 2017-09-21 📅
Indieningstermijn: 2017-11-02 📅
Publicatiedatum: 2017-09-23 📅
Identificatoren
Aankondigingsnummer: 2017/S 183-374613
PB-S nummer: 183
Object
Toepassingsgebied van de aanbesteding
Korte beschrijving:
The tender is sub-divided into 2 lots:
— lot 1: Electron Microscope for sub-Ångstrom materials analysis (S/TEM)
— lot 2: Electron and Ion Microscope for sample preparation (FIB-SEM)
Tenderers are entitled to submit tenders for more than 1 lot.
Tenderers can submit per lot 1 to a maximum of 2 offers. In addition, tenderers are allowed to submit a combination offer for both lots. If Tenderer wants to submit a combination offer he needs to submit the offer separately in each lot. (lot 1 — combination and lot 2 — combination offer).
Toon meer
Benaming van het perceel: Lot 1 — Electron Microscope for sub-Ångstrom material analysis (S/TEM)
Perceelnummer: 1
Korte beschrijving: Lot 1 — Electron Microscope for sub-Ångstrom material analysis (S/TEM).
Geschatte waarde exclusief BTW: 4 000 000 EUR 💰
Duur: 96 maanden
Benaming van het perceel: Lot 2 — Electron Microscope for sub-Ångstrom material analysis (S/TEM)
Perceelnummer: 2
Korte beschrijving: Lot 2 — Electron Microscope for sub-Ångstrom material analysis (S/TEM).
Geschatte waarde exclusief BTW: 1 300 000 EUR 💰
Plaats van uitvoering
Hoofdlocatie of plaats van uitvoering: Groningen.
Procedure
Tijdstip van ontvangst van inschrijvingen: 12:00
Talen waarin inschrijvingen of aanvragen tot deelneming kunnen worden ingediend: Engels 🗣️
Geldigheidsduur van de inschrijving: 4 maanden
Datum opening inschrijvingen: 2017-11-02 📅
Tijdstip van opening inschrijvingen: 12:00
Plaats: Groningen.
Aanbestedende dienst
Identiteit
Nationaal registratienummer: 01179037
Contact
Contactpunt: Ruth Koops
Adres van het kopersprofiel: https://platform.negometrix.com/PublishedTenders.aspx?tenderid=68018 🌏
Documenten URL: https://platform.negometrix.com/PublishedTenders.aspx?tenderid=68018 🌏
Aanvullende informatie
Beoordelingsorgaan
Naam: Competent Court
Poststad: Groningen
Land: Nederland 🇳🇱
Bron: OJS 2017/S 183-374613 (2017-09-21)
Award Aankondiging (2018-02-09)
Object
Toepassingsgebied van de aanbesteding
Korte beschrijving:
Totale waarde van de aanbesteding: 5 300 000 EUR 💰
Aankondigingsmetadata
Documenttype: Award Aankondiging
Procedure
Type bod: Niet van toepassing
Aanbestedende dienst
Contact
E-mail: inkoop@rug.nl 📧
Referentie
Datums
Verzenddatum: 2018-02-09 📅
Publicatiedatum: 2018-02-14 📅
Identificatoren
Aankondigingsnummer: 2018/S 031-067438
Verwijst naar aankondiging: 2017/S 183-374613
PB-S nummer: 31
Object
Toepassingsgebied van de aanbesteding
Korte beschrijving:
Benaming van het perceel: Lot 1: Electron Microscope for subÅngstrom material analysis (S/TEM)
Korte beschrijving: Lot 1: Electron Microscope for subÅngstrom material analysis (S/TEM).
Benaming van het perceel: Lot 2: Electron Microscope for subÅngstrom material analysis (S/TEM)
Korte beschrijving: Lot 2: Electron Microscope for subÅngstrom material analysis (S/TEM).
Procedure
Gunningscriteria
Kwaliteitscriterium (naam): Additional prefered optional support (service, expertise, research)
Kwaliteitscriterium (weging): 1
Kwaliteitscriterium (naam): Additional prefered optional (technical) requirements
Weging van de prijs: 1
Kwaliteitscriterium (naam): Additional preferred optional (technical) requirements
Additional preferred optional support (service, expertice and research)
Gunning van het contract
Datum van sluiting van de overeenkomst: 2017-12-19 📅
Aanvullende informatie
Beoordelingsorgaan
Naam: Competent court
Bron: OJS 2018/S 031-067438 (2018-02-09)
Object
Toepassingsgebied van de aanbesteding
Korte beschrijving:
The tender is subdivided into 2 lots:
— lot 1: Electron Microscope for subÅngstrom materials analysis (S/TEM).
— lot 2: Electron and Ion Microscope for sample preparation (FIB-SEM).
Tenderers are entitled to submit tenders for more than one lot.
Tenderers can submit per lot one to a maximum of 2 offers. In addition, tenderers are allowed to submit a combination offer for both lots. If Tenderer wants to submit a combination offer he needs to submit the offer separately in each lot. (lot 1: combination and lot 2: combination offer).
Toon meer
Aankondigingsmetadata
Documenttype: Award Aankondiging
Procedure
Type bod: Niet van toepassing
Aanbestedende dienst
Contact
E-mail: inkoop@rug.nl 📧
Referentie
Datums
Verzenddatum: 2018-02-09 📅
Publicatiedatum: 2018-02-14 📅
Identificatoren
Aankondigingsnummer: 2018/S 031-067438
Verwijst naar aankondiging: 2017/S 183-374613
PB-S nummer: 31
Object
Toepassingsgebied van de aanbesteding
Korte beschrijving:
The tender is subdivided into 2 lots:
— lot 1: Electron Microscope for subÅngstrom materials analysis (S/TEM).
— lot 2: Electron and Ion Microscope for sample preparation (FIB-SEM).
Tenderers are entitled to submit tenders for more than one lot.
Tenderers can submit per lot one to a maximum of 2 offers. In addition, tenderers are allowed to submit a combination offer for both lots. If Tenderer wants to submit a combination offer he needs to submit the offer separately in each lot. (lot 1: combination and lot 2: combination offer).
Toon meer
Korte beschrijving: Lot 1: Electron Microscope for subÅngstrom material analysis (S/TEM).
Benaming van het perceel: Lot 2: Electron Microscope for subÅngstrom material analysis (S/TEM)
Korte beschrijving: Lot 2: Electron Microscope for subÅngstrom material analysis (S/TEM).
Procedure
Gunningscriteria
Kwaliteitscriterium (naam): Additional prefered optional support (service, expertise, research)
Kwaliteitscriterium (weging): 1
Kwaliteitscriterium (naam): Additional prefered optional (technical) requirements
Weging van de prijs: 1
Kwaliteitscriterium (naam): Additional preferred optional (technical) requirements
Additional preferred optional support (service, expertice and research)
Gunning van het contract
Datum van sluiting van de overeenkomst: 2017-12-19 📅
Aanvullende informatie
Beoordelingsorgaan
Naam: Competent court
Bron: OJS 2018/S 031-067438 (2018-02-09)
Nieuwe aankopen in verwante categorieën 🆕