Binnen het Platform Interceptie Decryptie en Signaalanalyse (PIDS) project Invasive Memory Access Methods (IMAM) worden tools en bewerkingstrajecten ontwikkeld om op forensische wijze gegevens uit geheugens van geïntegreerde schakelingen (IC's) te verkrijgen, die niet of niet meer via de normale aansluitingen te bereiken zijn. Voor de analyse van deze geïntegreerde schakelingen is het nodig deze af te lagen en van elke laag foto's te nemen met hoge resolutie. De behoefte is gekomen om hiervoor een Field Emissie Gun Scanning Electronen Microscoop (FEG-SEM) aan te schaffen. Het is van belang dat er een externe interface is bij de FEG-SEM die de machine aan kan sturen.
Deadline
De termijn voor de ontvangst van de offertes was 2022-09-16.
De aanbesteding werd gepubliceerd op 2022-07-14.
Leveranciers
De volgende leveranciers worden genoemd in gunningsbesluiten of andere aanbestedingsdocumenten:
Object Toepassingsgebied van de aanbesteding
Titel:
“Field Emissie Gun Scanning Electronen Microscoop (FEG-SEM) t.b.v. NFI
RIVM/RH/204146”
Producten/diensten: Elektronenmicroscopen📦
Korte beschrijving:
“Binnen het Platform Interceptie Decryptie en Signaalanalyse (PIDS) project Invasive Memory Access Methods (IMAM) worden tools en bewerkingstrajecten...”
Korte beschrijving
Binnen het Platform Interceptie Decryptie en Signaalanalyse (PIDS) project Invasive Memory Access Methods (IMAM) worden tools en bewerkingstrajecten ontwikkeld om op forensische wijze gegevens uit geheugens van geïntegreerde schakelingen (IC's) te verkrijgen, die niet of niet meer via de normale aansluitingen te bereiken zijn. Voor de analyse van deze geïntegreerde schakelingen is het nodig deze af te lagen en van elke laag foto's te nemen met hoge resolutie. De behoefte is gekomen om hiervoor een Field Emissie Gun Scanning Electronen Microscoop (FEG-SEM) aan te schaffen. Het is van belang dat er een externe interface is bij de FEG-SEM die de machine aan kan sturen.
1️⃣
Aanvullende producten/diensten: Elektronenmicroscopen📦
Plaats van uitvoering: Nederland🏙️
Hoofdlocatie of plaats van uitvoering
Beschrijving van de aanbesteding:
“Binnen het Platform Interceptie Decryptie en Signaalanalyse (PIDS) project Invasive Memory Access Methods (IMAM) worden tools en bewerkingstrajecten...”
Beschrijving van de aanbesteding
Binnen het Platform Interceptie Decryptie en Signaalanalyse (PIDS) project Invasive Memory Access Methods (IMAM) worden tools en bewerkingstrajecten ontwikkeld om op forensische wijze gegevens uit geheugens van geïntegreerde schakelingen (IC's) te verkrijgen, die niet of niet meer via de normale aansluitingen te bereiken zijn. Hierbij valt bijvoorbeeld te denken aan contact- en plaatsbepalingsgegevens uit het geheugen van een deels verbrande mobiele telefoon. Hiertoe worden een groot aantal geavanceerde apparaten gebruikt om de IC's te bestuderen en te bewerken. Het gaat hierbij vaak om bewerkingen op micro- en nanoschaal.
Voor de analyse van deze geïntegreerde schakelingen is het nodig deze af te lagen en van elke laag foto's te nemen met hoge resolutie. Doordat de huidige generatie geïntegreerde schakelingen steeds groter wordt en steeds kleinere interne afmetingen heeft, is de behoefte gekomen hiervoor een Field Emissie Gun Scanning Electronen Microscoop (FEG-SEM) aan te schaffen die deze foto's met de nodige nauwkeurigheid kan maken en wel volautomatisch over de hele chip. Dit vraagt een hoog oplossend vermogen van enkele nanometers voor de meest moderne chips en de mogelijkheid een grote hoeveelheid beelden te maken in een raster waaruit later het beeld van de complete laag kan worden samengesteld. Veel functies dienen hierbij automatiseerbaar te zijn. Dit is niet mogelijk met de huidige Dual-Beam SEM bij het NFI, omdat het opnemen van deze beelden te veel tijd kost (3-7 dagen, 24 uur), de nauwkeurigheid niet voldoende is en er geen externe interface voorhanden is.
De momenteel gewenste functionaliteit is alleen met een FEG-SEM te realiseren, omdat de Field Emissie Gun (FEG) bron zowel het benodigde oplossend vermogen als ook de benodigde standtijd van de bron levert. Daarnaast wordt het met de nieuwe FEG-SEM mogelijk snel processtappen te karakteriseren en te monitoren en de resultaten te koppelen aan waarnemingen met de LEXT confocale microscoop. Ook kunnen delen van chips snel worden bekeken. Tenslotte wordt de FEG-SEM als inspectietool back-up wanneer de Dual-Beam SEM in langdurig gebruik, defect of in service is en uiteindelijk vervangen wordt.
Daarnaast is het van belang dat de machine een zo hoog mogelijke resolutie heeft, in het bijzonder voor (deels afgelaagde) geïntegreerde schakelingen die ook nog eens niet geleidend en niet gecoat kunnen zijn. Verder wordt er software gebouwd die het mogelijk moet maken extern de machine aan te sturen, voor het maken van zeer grote mozaïekfoto's. Het is van belang dat er een externe interface is bij de FEG-SEM die de machine aan kan sturen.
Het doel van deze Europese aanbesteding is het sluiten van één Overeenkomst tussen NFI en één Opdrachtnemer voor aanschaf en onderhoud van de gewenste FEG-SEM
Toon meer Gunningscriteria
De prijs is niet het enige gunningscriterium en alle criteria worden alleen in de aanbestedingsdocumenten vermeld
Duur
Startdatum: 2022-11-01 📅
Einddatum: 2027-11-01 📅
Duur van de opdracht, raamovereenkomst of dynamisch aankoopsysteem
Dit contract kan worden verlengd ✅ Beschrijving
Beschrijving van de verlengingen:
“Het onderhoudscontract zal na de eerste vier jaar, exclusief basisgarantieperiode van 12 maanden, voor onbepaalde tijd voor een aantal jaren worden...”
Beschrijving van de verlengingen
Het onderhoudscontract zal na de eerste vier jaar, exclusief basisgarantieperiode van 12 maanden, voor onbepaalde tijd voor een aantal jaren worden verlengd, zolang het instrument in gebruik blijft.
Juridische, economische, financiële en technische informatie Economische en financiële draagkracht
Selectiecriteria zoals vermeld in de aanbestedingsdocumenten
Technische en professionele bekwaamheid
Selectiecriteria zoals vermeld in de aanbestedingsdocumenten
Procedure Soort procedure
Open procedure
Administratieve informatie
Termijn voor de ontvangst van inschrijvingen of verzoeken tot deelneming: 2022-09-16
17:00 📅
Talen waarin inschrijvingen of aanvragen tot deelneming kunnen worden ingediend: Nederlands 🗣️
Voorwaarden voor de opening van de offertes: 2022-09-19
08:00 📅
Aanvullende informatie Beoordelingsorgaan
Naam: Rechtbank Den Haag
Poststad: Den Haag
Land: Nederland 🇳🇱
Bron: OJS 2022/S 137-391269 (2022-07-14)
Aanvullende inlichtingen (2022-08-19) Object Toepassingsgebied van de aanbesteding
Korte beschrijving:
“LET OP !! Aanbestedende dienst heeft, naar aanleiding van de eerste Nota van Inlichtingen, de aanbesteding gerectificeerd, waardoor de wettelijke...”
Korte beschrijving
LET OP !! Aanbestedende dienst heeft, naar aanleiding van de eerste Nota van Inlichtingen, de aanbesteding gerectificeerd, waardoor de wettelijke minimumtermijnen opnieuw in acht worden genomen en daartoe inschrijvers opnieuw de kans hebben zich aan te melden/in te schrijven aan/op deze aanbesteding.
Binnen het Platform Interceptie Decryptie en Signaalanalyse (PIDS) project Invasive Memory Access Methods (IMAM) worden tools en bewerkingstrajecten ontwikkeld om op forensische wijze gegevens uit geheugens van geïntegreerde schakelingen (IC's) te verkrijgen, die niet of niet meer via de normale aansluitingen te bereiken zijn. Voor de analyse van deze geïntegreerde schakelingen is het nodig deze af te lagen en van elke laag foto's te nemen met hoge resolutie. De behoefte is gekomen om hiervoor een Field Emissie Gun Scanning Electronen Microscoop (FEG-SEM) aan te schaffen. Het is van belang dat er een externe interface is bij de FEG-SEM die de machine aan kan sturen.
Aanvullende informatie Referentie oorspronkelijke aankondiging
Nummer van het bericht in het PB S: 2022/S 137-391269
Wijzigingen In de oorspronkelijke aankondiging te corrigeren tekst
Sectienummer: II.1.4
Plaats van de te wijzigen tekst: Korte beschrijving
Oude waarde
Tekst:
“Binnen het Platform Interceptie Decryptie en Signaalanalyse (PIDS) project Invasive Memory Access Methods (IMAM) worden tools en bewerkingstrajecten...”
Tekst
Binnen het Platform Interceptie Decryptie en Signaalanalyse (PIDS) project Invasive Memory Access Methods (IMAM) worden tools en bewerkingstrajecten ontwikkeld om op forensische wijze gegevens uit geheugens van geïntegreerde schakelingen (IC's) te verkrijgen, die niet of niet meer via de normale aansluitingen te bereiken zijn. Voor de analyse van deze geïntegreerde schakelingen is het nodig deze af te lagen en van elke laag foto's te nemen met hoge resolutie. De behoefte is gekomen om hiervoor een Field Emissie Gun Scanning Electronen Microscoop (FEG-SEM) aan te schaffen. Het is van belang dat er een externe interface is bij de FEG-SEM die de machine aan kan sturen.
Toon meer Nieuwe waarde
Tekst:
“LET OP !! Aanbestedende dienst heeft, naar aanleiding van de eerste Nota van Inlichtingen, de aanbesteding gerectificeerd, waardoor de wettelijke...”
Tekst
LET OP !! Aanbestedende dienst heeft, naar aanleiding van de eerste Nota van Inlichtingen, de aanbesteding gerectificeerd, waardoor de wettelijke minimumtermijnen opnieuw in acht worden genomen en daartoe inschrijvers opnieuw de kans hebben zich aan te melden/in te schrijven aan/op deze aanbesteding.
Binnen het Platform Interceptie Decryptie en Signaalanalyse (PIDS) project Invasive Memory Access Methods (IMAM) worden tools en bewerkingstrajecten ontwikkeld om op forensische wijze gegevens uit geheugens van geïntegreerde schakelingen (IC's) te verkrijgen, die niet of niet meer via de normale aansluitingen te bereiken zijn. Voor de analyse van deze geïntegreerde schakelingen is het nodig deze af te lagen en van elke laag foto's te nemen met hoge resolutie. De behoefte is gekomen om hiervoor een Field Emissie Gun Scanning Electronen Microscoop (FEG-SEM) aan te schaffen. Het is van belang dat er een externe interface is bij de FEG-SEM die de machine aan kan sturen.
Toon meer In de oorspronkelijke aankondiging te corrigeren tekst
Sectienummer: II.2.4
Plaats van de te wijzigen tekst: (1) Beschrijving van de aanbesteding
Oude waarde
Tekst:
“Binnen het Platform Interceptie Decryptie en Signaalanalyse (PIDS) project Invasive Memory Access Methods (IMAM) worden tools en bewerkingstrajecten...”
Tekst
Binnen het Platform Interceptie Decryptie en Signaalanalyse (PIDS) project Invasive Memory Access Methods (IMAM) worden tools en bewerkingstrajecten ontwikkeld om op forensische wijze gegevens uit geheugens van geïntegreerde schakelingen (IC's) te verkrijgen, die niet of niet meer via de normale aansluitingen te bereiken zijn. Hierbij valt bijvoorbeeld te denken aan contact- en plaatsbepalingsgegevens uit het geheugen van een deels verbrande mobiele telefoon. Hiertoe worden een groot aantal geavanceerde apparaten gebruikt om de IC's te bestuderen en te bewerken. Het gaat hierbij vaak om bewerkingen op micro- en nanoschaal.
Voor de analyse van deze geïntegreerde schakelingen is het nodig deze af te lagen en van elke laag foto's te nemen met hoge resolutie. Doordat de huidige generatie geïntegreerde schakelingen steeds groter wordt en steeds kleinere interne afmetingen heeft, is de behoefte gekomen hiervoor een Field Emissie Gun Scanning Electronen Microscoop (FEG-SEM) aan te schaffen die deze foto's met de nodige nauwkeurigheid kan maken en wel volautomatisch over de hele chip. Dit vraagt een hoog oplossend vermogen van enkele nanometers voor de meest moderne chips en de mogelijkheid een grote hoeveelheid beelden te maken in een raster waaruit later het beeld van de complete laag kan worden samengesteld. Veel functies dienen hierbij automatiseerbaar te zijn. Dit is niet mogelijk met de huidige Dual-Beam SEM bij het NFI, omdat het opnemen van deze beelden te veel tijd kost (3-7 dagen, 24 uur), de nauwkeurigheid niet voldoende is en er geen externe interface voorhanden is.
De momenteel gewenste functionaliteit is alleen met een FEG-SEM te realiseren, omdat de Field Emissie Gun (FEG) bron zowel het benodigde oplossend vermogen als ook de benodigde standtijd van de bron levert. Daarnaast wordt het met de nieuwe FEG-SEM mogelijk snel processtappen te karakteriseren en te monitoren en de resultaten te koppelen aan waarnemingen met de LEXT confocale microscoop. Ook kunnen delen van chips snel worden bekeken. Tenslotte wordt de FEG-SEM als inspectietool back-up wanneer de Dual-Beam SEM in langdurig gebruik, defect of in service is en uiteindelijk vervangen wordt.
Daarnaast is het van belang dat de machine een zo hoog mogelijke resolutie heeft, in het bijzonder voor (deels afgelaagde) geïntegreerde schakelingen die ook nog eens niet geleidend en niet gecoat kunnen zijn. Verder wordt er software gebouwd die het mogelijk moet maken extern de machine aan te sturen, voor het maken van zeer grote mozaïekfoto's. Het is van belang dat er een externe interface is bij de FEG-SEM die de machine aan kan sturen.
Het doel van deze Europese aanbesteding is het sluiten van één Overeenkomst tussen NFI en één Opdrachtnemer voor aanschaf en onderhoud van de gewenste FEG-SEM
Toon meer Nieuwe waarde
Tekst:
“LET OP !! Aanbestedende dienst heeft, naar aanleiding van de eerste Nota van Inlichtingen, de aanbesteding gerectificeerd, waardoor de wettelijke...”
Tekst
LET OP !! Aanbestedende dienst heeft, naar aanleiding van de eerste Nota van Inlichtingen, de aanbesteding gerectificeerd, waardoor de wettelijke minimumtermijnen opnieuw in acht worden genomen en daartoe inschrijvers opnieuw de kans hebben zich aan te melden/in te schrijven aan/op deze aanbesteding.
Binnen het Platform Interceptie Decryptie en Signaalanalyse (PIDS) project Invasive Memory Access Methods (IMAM) worden tools en bewerkingstrajecten ontwikkeld om op forensische wijze gegevens uit geheugens van geïntegreerde schakelingen (IC's) te verkrijgen, die niet of niet meer via de normale aansluitingen te bereiken zijn. Hierbij valt bijvoorbeeld te denken aan contact- en plaatsbepalingsgegevens uit het geheugen van een deels verbrande mobiele telefoon. Hiertoe worden een groot aantal geavanceerde apparaten gebruikt om de IC's te bestuderen en te bewerken. Het gaat hierbij vaak om bewerkingen op micro- en nanoschaal.
Voor de analyse van deze geïntegreerde schakelingen is het nodig deze af te lagen en van elke laag foto's te nemen met hoge resolutie. Doordat de huidige generatie geïntegreerde schakelingen steeds groter wordt en steeds kleinere interne afmetingen heeft, is de behoefte gekomen hiervoor een Field Emissie Gun Scanning Electronen Microscoop (FEG-SEM) aan te schaffen die deze foto's met de nodige nauwkeurigheid kan maken en wel volautomatisch over de hele chip. Dit vraagt een hoog oplossend vermogen van enkele nanometers voor de meest moderne chips en de mogelijkheid een grote hoeveelheid beelden te maken in een raster waaruit later het beeld van de complete laag kan worden samengesteld. Veel functies dienen hierbij automatiseerbaar te zijn. Dit is niet mogelijk met de huidige Dual-Beam SEM bij het NFI, omdat het opnemen van deze beelden te veel tijd kost (3-7 dagen, 24 uur), de nauwkeurigheid niet voldoende is en er geen externe interface voorhanden is.
De momenteel gewenste functionaliteit is alleen met een FEG-SEM te realiseren, omdat de Field Emissie Gun (FEG) bron zowel het benodigde oplossend vermogen als ook de benodigde standtijd van de bron levert. Daarnaast wordt het met de nieuwe FEG-SEM mogelijk snel processtappen te karakteriseren en te monitoren en de resultaten te koppelen aan waarnemingen met de LEXT confocale microscoop. Ook kunnen delen van chips snel worden bekeken. Tenslotte wordt de FEG-SEM als inspectietool back-up wanneer de Dual-Beam SEM in langdurig gebruik, defect of in service is en uiteindelijk vervangen wordt.
Daarnaast is het van belang dat de machine een zo hoog mogelijke resolutie heeft, in het bijzonder voor (deels afgelaagde) geïntegreerde schakelingen die ook nog eens niet geleidend en niet gecoat kunnen zijn. Verder wordt er software gebouwd die het mogelijk moet maken extern de machine aan te sturen, voor het maken van zeer grote mozaïekfoto's. Het is van belang dat er een externe interface is bij de FEG-SEM die de machine aan kan sturen.
Het doel van deze Europese aanbesteding is het sluiten van één Overeenkomst tussen NFI en één Opdrachtnemer voor aanschaf en onderhoud van de gewenste FEG-SEM
Toon meer In de oorspronkelijke aankondiging te corrigeren tekst
Sectienummer: II.2.7
Plaats van de te wijzigen tekst: (1) Aanvang
Oude waarde
Datum: 2022-11-01 📅
Nieuwe waarde
Datum: 2022-12-01 📅
In de oorspronkelijke aankondiging te corrigeren tekst
Sectienummer: II.2.7
Plaats van de te wijzigen tekst: (1) Voltooiing
Oude waarde
Datum: 2027-11-01 📅
Nieuwe waarde
Datum: 2027-11-30 📅
In de oorspronkelijke aankondiging te corrigeren tekst
Sectienummer: IV.2.2
Plaats van de te wijzigen tekst: Termijn voor ontvangst van inschrijvingen of deelnemingsaanvragen
Oude waarde
Datum: 2022-09-16 📅
Nieuwe waarde
Datum: 2022-10-06 📅
In de oorspronkelijke aankondiging te corrigeren tekst
Sectienummer: IV.2.7
Plaats van de te wijzigen tekst: Omstandigheden waarin de inschrijvingen worden geopend
Oude waarde
Datum: 2022-09-19 📅
Nieuwe waarde
Datum: 2022-10-07 📅
Bron: OJS 2022/S 162-461326 (2022-08-19)
Award Aankondiging (2023-02-07) Object Toepassingsgebied van de aanbesteding
Totale waarde van de opdracht (exclusief BTW): EUR 273787.50 💰
Beschrijving
Beschrijving van de aanbesteding:
“Binnen het Platform Interceptie Decryptie en Signaalanalyse (PIDS) project Invasive Memory Access Methods (IMAM) worden tools en bewerkingstrajecten...”
Beschrijving van de aanbesteding
Binnen het Platform Interceptie Decryptie en Signaalanalyse (PIDS) project Invasive Memory Access Methods (IMAM) worden tools en bewerkingstrajecten ontwikkeld om op forensische wijze gegevens uit geheugens van geïntegreerde schakelingen (IC's) te verkrijgen, die niet of niet meer via de normale aansluitingen te bereiken zijn. Voor de analyse van deze geïntegreerde schakelingen is het nodig deze af te lagen en van elke laag foto's te nemen met hoge resolutie. De behoefte is gekomen om hiervoor een Field Emissie Gun Scanning Electronen Microscoop (FEG-SEM) aan te schaffen. Het is van belang dat er een externe interface is bij de FEG-SEM die de machine aan kan sturen.
Procedure Administratieve informatie
Eerdere publicatie betreffende deze procedure: 2022/S 137-391269
Gunning van het contract
1️⃣
Datum van sluiting van het contract: 2022-12-05 📅
Informatie over aanbestedingen
Aantal ontvangen offertes: 3
Naam en adres van de contractant
Naam: JEOL (Europe) B.V.
Poststad: Nieuw-Vennep
Land: Nederland 🇳🇱
Regio: Nederland🏙️
De aannemer is een KMO
Informatie over de waarde van de opdracht/het perceel (exclusief BTW)
Totale waarde van het contract/perceel: EUR 273787.50 💰
Bron: OJS 2023/S 030-088310 (2023-02-07)