In order to perform in-situ large area contamination-free sample preparation and high resolution imaging and analysis, the JRC Petten plans to purchase a Dual Beam microscope (pFIB-SEM) featuring an inductively coupled plasma as ion beam source (pFIB) and a field emission electron beam as source for electron imaging. The pFIB/SEM infrastructure will support scientific activities in nuclear safety and in medical applications of nuclear science. For that purpose, the system will include energy dispersive x-ray (EDX), Electron Backscatter Diffraction (EBSD) and Scanning-Transmission Electron Microscope (STEM) detectors and allow micro-machining of micro-mechanical specimens, TEM lamellae preparation of metals and biological materials, and 3D reconstructions of inorganic materials and cells.
Deadline
De termijn voor de ontvangst van de offertes was 2019-07-08.
De aanbesteding werd gepubliceerd op 2019-05-27.
Aankondiging van een opdracht (2019-05-27) Object Toepassingsgebied van de aanbesteding
Titel: NL-Petten: Levering en onderhoud van een op plasma gefocusseerde ionenbundel met Dual Beam - rasterelektronenmicroscoop met veldemissie (pFIB - SEM)
Referentienummer: JRC/PTT/2019/OP/1257
Korte beschrijving:
“Med det formål at udføre klargøring på stedet af kontaminationsfrie prøver med store områder samt billeddannelse og analyse i høj opløsning har JRC Petten...”
Korte beschrijving
Med det formål at udføre klargøring på stedet af kontaminationsfrie prøver med store områder samt billeddannelse og analyse i høj opløsning har JRC Petten til hensigt at indkøbe et dobbeltstrålet mikroskop (pFIB-SEM — Plasma Focused Ion Beam — Field Emission Scanning Electron Microscope), der anvender induktivt koblet plasma som kilde til ionstrålen (pFIB) og en feltemissions-elektronstråle som kilde til elektron-billeddannelse. pFIB-SEM-infrastrukturen vil støtte videnskabelige aktiviteter inden for nuklear sikkerhed og nuklear videnskabs medicinske anvendelser. Systemet vil, til dette formål, inkludere detektorer til energidispersiv røntgen (EDX — Energy Dispersive X-ray), elektron-tilbagesprednings diffraktion (EBSD — Electron Backscatter Diffraction) og scanning-transmissions elektron-mikroskop (STEM — Scanning-Transmission Electron Microscope) og give mulighed for mikrobearbejdning af mikromekaniske prøver, TEM-lamel klargøring af metaller og biologiske materialer samt 3D-rekonstruktioner af uorganiske materialer og celler.
Toon meer Aankondigingsmetadata
Originele taal: Engels 🗣️
Documenttype: Aankondiging van een opdracht
Aard van de opdracht: Leveringen
Regelgeving: Europese instelling/Europees agentschap of internationale organisatie
Gemeenschappelijke woordenlijst overheidsopdrachten (CPV)
Code: Microscopen📦
Aanvullende CPV-code: Microscopen📦 Plaats van uitvoering
NUTS-regio: Alkmaar en omgeving🏙️
Procedure
Type procedure: Openbare procedure
Type bod: Inschrijving voor alle percelen
Gunningscriteria
Uit economisch oogpunt voordeligste inschrijving
Aanvullende inlichtingen (2019-06-04) Object Toepassingsgebied van de aanbesteding
Titel: NL-Petten: Levering en onderhoud van een rasterelektronenmicroscoop met veldemissie met een gefocusseerde dubbele ionenbundel op basis van plasma —(pFIB - SEM).
Korte beschrijving:
“Med det formål at udføre klargøring på stedet af kontaminationsfri prøver med store områder samt billeddannelse og analyse i høj opløsning har JRC Petten...”
Korte beschrijving
Med det formål at udføre klargøring på stedet af kontaminationsfri prøver med store områder samt billeddannelse og analyse i høj opløsning har JRC Petten til hensigt at indkøbe et dobbeltstrålet mikroskop (pFIB-SEM — Plasma Focused Ion Beam — Field Emission Scanning Electron Microscope), der anvender induktivt koblet plasma som kilde til ionstrålen (pFIB) og en feltemissions-elektronstråle som kilde til elektron-billeddannelse. pFIB-SEM-infrastrukturen vil støtte videnskabelige aktiviteter inden for nuklear sikkerhed og nuklear videnskabs medicinske anvendelser. Systemet vil, til dette formål, inkludere detektorer til energidispersiv røntgen (EDX — Energy Dispersive X-ray), elektron-tilbagesprednings diffraktion (EBSD — Electron Backscatter Diffraction) og scanning-transmissions elektron-mikroskop (STEM — Scanning-Transmission Electron Microscope) og give mulighed for mikrobearbejdning af mikromekaniske prøver, TEM-lamel klargøring af metaller og biologiske materialer samt 3D-rekonstruktioner af uorganiske materialer og celler.
Award Aankondiging (2019-08-22) Object Toepassingsgebied van de aanbesteding
Titel: Nederland — Petten: Levering en onderhoud van een rasterelektronenmicroscoop met veldemissie met een gefocusseerde dubbele ionenbundel op basis van plasma (pFIB — SEM)
Aankondigingsmetadata
Documenttype: Award Aankondiging