In order to perform in-situ large area contamination-free sample preparation and high resolution imaging and analysis, the JRC Petten plans to purchase a dual beam microscope (pFIB-SEM) featuring a Xenon plasma as ion beam source (pFIB) and a field emission electron beam as source for electron imaging. The pFIB/SEM infrastructure will support scientific activities in nuclear safety and in medical applications of nuclear science. For that purpose, the system will include energy dispersive X-ray (EDX), electron backscatter diffraction (EBSD) and scanning-transmission electron microscope (STEM) detectors and allow micromachining of micromechanical specimens, TEM lamellae preparation of hard and soft materials, and 3D reconstructions of analysed volumes. The choice for a plasma ion source instead of the most common liquid metal ion source derives from the need to avoid metal contamination due to ion implantation during sample preparation (fabrication of micro-specimens or TEM lamellae).
Deadline
De termijn voor de ontvangst van de offertes was 2019-10-31.
De aanbesteding werd gepubliceerd op 2019-09-17.
Leveranciers
De volgende leveranciers worden genoemd in gunningsbesluiten of andere aanbestedingsdocumenten:
Aankondiging van een opdracht (2019-09-17) Object Toepassingsgebied van de aanbesteding
Titel: Nederland — Petten: Levering en onderhoud van een rasterelektronenmicroscoop met veldemissie met een gefocusseerde dubbele ionenbundel op basis van plasma
Referentienummer: JRC/PTT/2019/OP/3095
Korte beschrijving:
“Med det formål at udføre klargøring på stedet af kontaminationsfri prøver med store områder samt billeddannelse og analyse i høj opløsning har JRC Petten...”
Korte beschrijving
Med det formål at udføre klargøring på stedet af kontaminationsfri prøver med store områder samt billeddannelse og analyse i høj opløsning har JRC Petten til hensigt at indkøbe et dobbeltstrålet mikroskop (pFIB-SEM — Plasma Focused Ion Beam — Field Emission Scanning Electron Microscope), der anvender xenonplasma som kilde til ionstrålen (pFIB) og en feltemissions-elektronstråle som kilde til elektron-billeddannelse. pFIB-SEM-infrastrukturen vil støtte videnskabelige aktiviteter inden for nuklear sikkerhed og nuklear videnskabs medicinske anvendelser. Systemet vil til dette formål inkludere detektorer til energidispersiv røntgen (EDX — Energy Dispersive X-ray), elektron-tilbagesprednings diffraktion (EBSD — Electron Backscatter Diffraction) og scanning-transmissions elektron-mikroskop (STEM — Scanning-Transmission Electron Microscope) og give mulighed for mikrobearbejdning af mikromekaniske prøver, TEM-lamelklargøring af hårde og bløde materialer samt 3D-rekonstruktioner af analyserede mængder. Valget af en plasma-ionkilde i stedet for den mest almindelige flydende metal-ionkilde udspringer af behovet for at undgå metalkontaminering grundet ion-implantering under forberedelsen af stikprøver (fabrikation af mikroprøver eller TEM-lameller).
Toon meer Aankondigingsmetadata
Originele taal: Engels 🗣️
Documenttype: Aankondiging van een opdracht
Aard van de opdracht: Leveringen
Regelgeving: Europese instelling/Europees agentschap of internationale organisatie
Gemeenschappelijke woordenlijst overheidsopdrachten (CPV)
Code: Ionenmicroscopen📦
Aanvullende CPV-code: Ionenmicroscopen📦 Plaats van uitvoering
NUTS-regio: Alkmaar en omgeving🏙️
Procedure
Type procedure: Openbare procedure
Type bod: Inschrijving voor alle percelen
Gunningscriteria
Uit economisch oogpunt voordeligste inschrijving
Award Aankondiging (2020-03-10) Object Toepassingsgebied van de aanbesteding
Totale waarde van de aanbesteding: 1 886 649 EUR 💰
Aankondigingsmetadata
Documenttype: Award Aankondiging