In order to perform in-situ large area contamination-free sample preparation and high resolution imaging and analysis, the JRC Petten plans to purchase a Dual Beam microscope (pFIB-SEM) featuring an inductively coupled plasma as ion beam source (pFIB) and a field emission electron beam as source for electron imaging. The pFIB/SEM infrastructure will support scientific activities in nuclear safety and in medical applications of nuclear science. For that purpose, the system will include energy dispersive x-ray (EDX), Electron Backscatter Diffraction (EBSD) and Scanning-Transmission Electron Microscope (STEM) detectors and allow micro-machining of micro-mechanical specimens, TEM lamellae preparation of metals and biological materials, and 3D reconstructions of inorganic materials and cells.
Deadline
De termijn voor de ontvangst van de offertes was 2019-07-08.
De aanbesteding werd gepubliceerd op 2019-05-27.
Aankondiging van een opdracht (2019-05-27) Aanbestedende dienst Naam en adressen
Naam:
“European Commission, JRC — Joint Research Centre, JRC.G — Nuclear Safety and Security (Karlsruhe), JRC.G.I.4 — Nuclear Reactor Safety and Emergency Preparedness”
Naam
European Commission, JRC — Joint Research Centre, JRC.G — Nuclear Safety and Security (Karlsruhe), JRC.G.I.4 — Nuclear Reactor Safety and Emergency Preparedness
Object Toepassingsgebied van de aanbesteding
Titel:
“NL-Petten: Supply and Maintenance of a Dual Beam Plasma Focused Ion Beam — Field Emission Scanning Electron Microscope (pFIB — SEM)
JRC/PTT/2019/OP/1257”
Producten/diensten: Microscopen📦
Korte beschrijving:
“In order to perform in-situ large area contamination-free sample preparation and high resolution imaging and analysis, the JRC Petten plans to purchase a...”
Korte beschrijving
In order to perform in-situ large area contamination-free sample preparation and high resolution imaging and analysis, the JRC Petten plans to purchase a Dual Beam microscope (pFIB-SEM) featuring an inductively coupled plasma as ion beam source (pFIB) and a field emission electron beam as source for electron imaging. The pFIB/SEM infrastructure will support scientific activities in nuclear safety and in medical applications of nuclear science. For that purpose, the system will include energy dispersive x-ray (EDX), Electron Backscatter Diffraction (EBSD) and Scanning-Transmission Electron Microscope (STEM) detectors and allow micro-machining of micro-mechanical specimens, TEM lamellae preparation of metals and biological materials, and 3D reconstructions of inorganic materials and cells.
1️⃣
Aanvullende producten/diensten: Microscopen📦
Aanvullende producten/diensten: Ionenmicroscopen📦
Plaats van uitvoering: Alkmaar en omgeving🏙️
Hoofdlocatie of plaats van uitvoering: Westerduinweg 3,1755 LE Petten, NL.
Beschrijving van de aanbesteding:
“NL-Petten: Supply and maintenance of a dual beam plasma Focused Ion Beam — Field Emission Scanning Electron Microscope (pFIB — SEM).” Gunningscriteria
De prijs is niet het enige gunningscriterium en alle criteria worden alleen in de aanbestedingsdocumenten vermeld
Toepassingsgebied van de aanbesteding
Geschatte totale waarde exclusief BTW: EUR 2 150 000 💰
Duur van de opdracht, raamovereenkomst of dynamisch aankoopsysteem
Het onderstaande tijdschema is uitgedrukt in aantal maanden.
Beschrijving
Duur: 58
Toepassingsgebied van de aanbesteding
Informatie over de fondsen van de Europese Unie: See Internet address provided in Section I.3.
Beschrijving
Aanvullende informatie: See internet address provided in Section I.3).
Juridische, economische, financiële en technische informatie Voorwaarden voor deelname
Lijst en korte beschrijving van aandoeningen: See internet address provided in Section I.3).
Economische en financiële draagkracht
Selectiecriteria zoals vermeld in de aanbestedingsdocumenten
Technische en professionele bekwaamheid
Selectiecriteria zoals vermeld in de aanbestedingsdocumenten
Voorwaarden met betrekking tot het contract
Voorwaarden voor de uitvoering van het contract: See internet address provided in Section I.3).
Procedure Soort procedure
Open procedure
Administratieve informatie
Termijn voor de ontvangst van inschrijvingen of verzoeken tot deelneming: 2019-07-08
16:00 📅
Talen waarin inschrijvingen of aanvragen tot deelneming kunnen worden ingediend: Engels 🗣️
Talen waarin inschrijvingen of aanvragen tot deelneming kunnen worden ingediend: Bulgaars 🗣️
Talen waarin inschrijvingen of aanvragen tot deelneming kunnen worden ingediend: Tsjechisch 🗣️
Talen waarin inschrijvingen of aanvragen tot deelneming kunnen worden ingediend: Deens 🗣️
Talen waarin inschrijvingen of aanvragen tot deelneming kunnen worden ingediend: Duits 🗣️
Talen waarin inschrijvingen of aanvragen tot deelneming kunnen worden ingediend: Grieks 🗣️
Talen waarin inschrijvingen of aanvragen tot deelneming kunnen worden ingediend: Spaans 🗣️
Talen waarin inschrijvingen of aanvragen tot deelneming kunnen worden ingediend: Estisch 🗣️
Talen waarin inschrijvingen of aanvragen tot deelneming kunnen worden ingediend: Fins 🗣️
Talen waarin inschrijvingen of aanvragen tot deelneming kunnen worden ingediend: Frans 🗣️
Talen waarin inschrijvingen of aanvragen tot deelneming kunnen worden ingediend: Iers 🗣️
Talen waarin inschrijvingen of aanvragen tot deelneming kunnen worden ingediend: Kroatisch 🗣️
Talen waarin inschrijvingen of aanvragen tot deelneming kunnen worden ingediend: Hongaars 🗣️
Talen waarin inschrijvingen of aanvragen tot deelneming kunnen worden ingediend: Italiaans 🗣️
Talen waarin inschrijvingen of aanvragen tot deelneming kunnen worden ingediend: Litouws 🗣️
Talen waarin inschrijvingen of aanvragen tot deelneming kunnen worden ingediend: Lets 🗣️
Talen waarin inschrijvingen of aanvragen tot deelneming kunnen worden ingediend: Maltees 🗣️
Talen waarin inschrijvingen of aanvragen tot deelneming kunnen worden ingediend: Nederlands 🗣️
Talen waarin inschrijvingen of aanvragen tot deelneming kunnen worden ingediend: Pools 🗣️
Talen waarin inschrijvingen of aanvragen tot deelneming kunnen worden ingediend: Portugees 🗣️
Talen waarin inschrijvingen of aanvragen tot deelneming kunnen worden ingediend: Roemeens 🗣️
Talen waarin inschrijvingen of aanvragen tot deelneming kunnen worden ingediend: Slowaaks 🗣️
Talen waarin inschrijvingen of aanvragen tot deelneming kunnen worden ingediend: Sloveens 🗣️
Talen waarin inschrijvingen of aanvragen tot deelneming kunnen worden ingediend: Zweeds 🗣️
Het onderstaande tijdschema is uitgedrukt in aantal maanden.
Minimumtermijn gedurende welke de inschrijver de offerte gestand moet doen: 6
Voorwaarden voor de opening van de offertes: 2019-07-09
16:30 📅
Voorwaarden voor de opening van de offertes (plaats): Westerduinweg 3,1755 LE Petten, NL.
Voorwaarden voor de opening van inschrijvingen (Informatie over bevoegde personen en openingsprocedure): See internet address provided in Section I.3).
Aanvullende informatie Informatie over elektronische workflows
Er zal gebruik worden gemaakt van elektronische betaling
Aanvullende informatie
See internet address provided in Section I.3).
Beoordelingsorgaan
Naam: General Court of the European Union
Postadres: rue du Fort Niedergrünewald
Poststad: Luxembourg
Postcode: 2925
Land: Luxemburg 🇱🇺
Telefoon: +352 4303-1📞
URL: http://curia.europa.eu🌏 Herzieningsprocedure
Precieze informatie over de termijn(en) voor herzieningsprocedures: See internet address provided in Section I.3).
Bron: OJS 2019/S 105-254383 (2019-05-27)
Aanvullende inlichtingen (2019-06-04) Object Toepassingsgebied van de aanbesteding
Korte beschrijving:
“In order to perform in-situ large area contamination-free sample preparation and high resolution imaging and analysis, the JRC Petten plans to purchase a...”
Korte beschrijving
In order to perform in-situ large area contamination-free sample preparation and high resolution imaging and analysis, the JRC Petten plans to purchase a Dual Beam microscope (pFIB-SEM) featuring an inductively coupled plasma as ion beam source (pFIB) and a field emission electron beam as source for electron imaging. The pFIB/SEM infrastructure will support scientific activities in nuclear safety and in medical applications of nuclear science. For that purpose, the system will include energy dispersive x-ray (EDX), electron backscatter diffraction (EBSD) and scanning-transmission electron microscope (STEM) detectors and allow micromachining of micromechanical specimens, TEM lamellae preparation of metals and biological materials, and 3D reconstructions of inorganic materials and cells.
Aanvullende informatie Referentie oorspronkelijke aankondiging
Nummer van het bericht in het PB S: 2019/S 105-254383
Wijzigingen In de oorspronkelijke aankondiging te corrigeren tekst
Sectienummer: I.3)
Plaats van de te wijzigen tekst: Communication
Oude waarde
Tekst:
“The procurement documents are available for unrestricted and full direct access, free of charge, at:...”
Toon meer Nieuwe waarde
Tekst:
“The procurement documents are available for unrestricted and full direct access, free of charge, at:...”
Tekst
The procurement documents are available for unrestricted and full direct access, free of charge, at: https://etendering.ted.europa.eu/cft/cft-display.html?cftId=4716
Additional information can be obtained from the abovementioned address.
Tenders or requests to participate must be submitted as stated in the procurement documents.
Toon meer
Bron: OJS 2019/S 109-264184 (2019-06-04)
Aanvullende inlichtingen (2019-06-12) Aanbestedende dienst Naam en adressen
Naam:
“European Commission, JRC — Joint Research Centre, JRC.G — Nuclear Safety and Security (Karlsruhe), JRC.G.I.4 - Nuclear Reactor Safety and Emergency Preparedness”
Naam
European Commission, JRC — Joint Research Centre, JRC.G — Nuclear Safety and Security (Karlsruhe), JRC.G.I.4 - Nuclear Reactor Safety and Emergency Preparedness
Object Toepassingsgebied van de aanbesteding
Korte beschrijving:
“In order to perform in-situ large area contamination-free sample preparation and high resolution imaging and analysis, the JRC Petten plans to purchase a...”
Korte beschrijving
In order to perform in-situ large area contamination-free sample preparation and high resolution imaging and analysis, the JRC Petten plans to purchase a Dual Beam microscope (pFIB-SEM) featuring an inductively coupled plasma as ion beam source (pFIB) and a field emission electron beam as source for electron imaging.The pFIB/SEM infrastructure will support scientific activities in nuclear safety and in medical applications of nuclear science. For that purpose, the system will include energy dispersive x-ray (EDX), electron backscatter diffraction (EBSD) and scanning-transmission electron microscope (STEM) detectors and allow micromachining of micromechanical specimens, TEM lamellae preparation of metals and biological materials, and 3D reconstructions of inorganic materials and cells.
Wijzigingen In de oorspronkelijke aankondiging te corrigeren tekst
Sectienummer: IV.2.2)
Plaats van de te wijzigen tekst: Time limit for receipt of tenders or requests to participate
Oude waarde
Datum: 2019-07-08 📅
Tijd: 16:00
Nieuwe waarde
Datum: 2019-07-18 📅
Tijd: 16:00
In de oorspronkelijke aankondiging te corrigeren tekst
Sectienummer: IV.2.7)
Plaats van de te wijzigen tekst: Conditions for opening of tenders
Oude waarde
Datum: 2019-07-09 📅
Tijd: 16:30
Nieuwe waarde
Datum: 2019-07-19 📅
Tijd: 15:00
Bron: OJS 2019/S 114-278796 (2019-06-12)
Award Aankondiging (2019-08-22) Object Toepassingsgebied van de aanbesteding
Korte beschrijving:
“In order to perform in-situ large area contamination-free sample preparation and high resolution imaging and analysis, the JRC Petten plans to purchase a...”
Korte beschrijving
In order to perform in-situ large area contamination-free sample preparation and high resolution imaging and analysis, the JRC Petten plans to purchase a dual beam microscope (pFIB-SEM) featuring an inductively coupled plasma as ion beam source (pFIB) and a field emission electron beam as source for electron imaging.The pFIB/SEM infrastructure will support scientific activities in nuclear safety and in medical applications of nuclear science. For that purpose, the system will include energy dispersive X-ray (EDX), electron backscatter diffraction (EBSD) and scanning-transmission electron microscope (STEM) detectors and allow micro-machining of micro-mechanical specimens, TEM lamella preparation of metals and biological materials, and 3D reconstructions of inorganic materials and cells.
Toon meer Beschrijving
Beschrijving van de aanbesteding:
“NL-Petten: supply and maintenance of a dual beam plasma focused ion beam — field emission scanning electron microscope (pFIB — SEM).” Gunningscriteria
Kwaliteitscriterium (naam): Technical quality
Kwaliteitscriterium (weging): 30
Prijs (weging): 70
Procedure Administratieve informatie
Eerdere publicatie betreffende deze procedure: 2019/S 105-254383
Gunning van het contract
1️⃣
Titel:
“NL-Petten: Supply and Maintenance of a Dual Beam Plasma Focused Ion Beam — Field Emission Scanning Electron Microscope (pFIB — SEM)” Informatie over niet-toekenning
Andere redenen (stopzetting van de procedure)
Bron: OJS 2019/S 166-405779 (2019-08-22)