Transmission Electron Microscope
The Transmission Electron Microscope should be equipped with a Cs probe-corrector in order to obtain a STEM resolution of at least 0.1 nm at 200 kV. The Energy Dispersive X-ray Analysis system should be equipped with SDD detector(s) and have at least 0.7 srad collection angle.
Deadline
De termijn voor de ontvangst van de offertes was 2012-01-12.
De aanbesteding werd gepubliceerd op 2011-11-18.
Leveranciers
De volgende leveranciers worden genoemd in gunningsbesluiten of andere aanbestedingsdocumenten:
Wie?
Wat?
Aankoopgeschiedenis
| Datum |
Document |
| 2011-11-18
|
Aankondiging van een opdracht
|
| 2012-01-11
|
Aanvullende inlichtingen
|
| 2013-01-03
|
Award Aankondiging
|